蓝景电缆故障测试仪ARM+FPGA双核芯片+波形比对功能

更新时间：2026-06-23 点击次数：10次

市面常规电缆故障测试仪普遍采用普通单核MCU芯片，运算速度慢，波形处理能力弱，面对电缆接头氧化、线路老化压降、隐性高阻故障等疑难故障，波形变化微弱，仪器无法识别细微波形差异，无法定位电压偏低、线路暗损类隐性故障。这类疑难故障不会直接造成短路跳闸，但会导致后端电压不足、供电不稳，常规仪器无法检测，成为线路运维长期盲区。同时单核设备波形刷新卡顿，现场复杂波形分析耗时久，抢修效率低下。蓝景仪器采用ARM主控CPU+FPGA高速现场可编程门阵列双核架构，算力翻倍，新增波形比对分析功能，攻克疑难线路故障检测难题。

卖点图1.jpg

卖点图2.jpg

卖点图3.jpg

卖点图4.jpg

双核芯片分工协作，ARM负责人机交互、参数设置、数据存储，FPGA负责高速波形采集与运算处理，波形采集速度更快、分析更精准，秒级识别微弱故障反射信号，轻松捕捉普通仪器无法识别的线路老化、接头氧化细微波形变化。波形对比功能，可存储标准完好电缆波形，现场实测波形与标准波形一键比对，直观看出波形偏移点位，精准定位电缆氧化、接触不良、暗损耗故障，解决后端电压偏低的疑难运维痛点。

仪器脉冲信号自适应调节更智能，针对高阻漏电、低阻短路、断线、线路氧化四类常见故障自动适配运算逻辑，无需运维人员手动切换故障模式，降低操作门槛。整机电路架构简洁，集成度高，硬件故障率低，野外恶劣环境运行稳定可靠。

老旧电缆线路大修、疑难隐性故障排查、线路电压偏低溯源、电缆接头老化隐患检测场景，双核算力+波形比对黑科技，补齐传统仪器检测盲区，既能测显性短路断线故障，也能查隐性线路老化故障，全面覆盖所有电缆运维疑难场景。

上一篇：蓝景工业内窥镜128G 内置 + 64G 双超大存储，全功能图像编辑分类管理

下一篇：蓝景气相分子吸收光谱仪PTFE 冷阱一体化除水系统，全程无需干燥剂

返回列表>>